我司自主研发,设计,制造的最新产品-Hot Disk法导热系数测试仪正式面市!
DRE-2C导热系数测试仪(瞬态平面热源法)
DRE-2C导热系数测试仪采用瞬态平面热源法,主要测量固体、粉末、涂层、薄膜、各向异性材料等的导热系数、导温系数(热扩散系数)和比热。本仪器基于TPS瞬态平面热源技术,用Hot Disk作为探头的导热系数测定仪。Hot Disk法的优点有:(1)直接测量热传播,可以节约大量的时间;(2)不会和静态法一样受到接触热阻的影响;(3)无须特别的样品制备,只需相对平整的样品表面。
主要技术指标:
1、导热系数测定范围:0.01—100W/mk
2、测量时间:1-600秒
3、准确度:优于5%
4、温度范围:标准测量:室温,(可根据客户要求选配各种温度段的测试温度,费用另计:如-20℃~120℃)
5、样本尺寸:大于15mm高,大于直径45mm相对平整的样品表面
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